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激光线宽分析仪 LWA-10k NIR

用于测量、分析和实时监测激光器频率噪声的通用线宽分析仪

 

激光光源频率和相位噪声的表征从未如此简单:LWA-10k使用户能够在宽波长范围内以高精度表征和优化激光光源,包括电信光源的O-/E-S-C-和L-波段,以及红外范围内量子光学应用的典型波长。

 

LWA-10k通过单模光纤提供激光(可使用任意光偏振),提供与激光器频率偏差成比例的实时模拟电压输出。检测技术基于干涉测量原理,因此不需要额外的高稳定窄光基准。

激光线宽分析仪 LWA-10k  NIR
产品特点
· 测试波长:1064-1625nm
· 线宽范围:5kHz-10MHz
· 低频率噪声
· 高稳定性
· 快速测试
典型应用
· 测量激光源的固有(洛伦兹)和有效(光学)线宽
· 利用频率噪声密度谱进行频率分辨激光噪声分析
· 激光控制单元特性(电源噪声、接地回路问题)
· 激光调制特性(例如频率相关振幅传递函数)
· 声噪声源的识别
· 反馈回路特性(带宽、伺服凸点、频率漂移)
· 线宽减小/一致性控制(需要PID控制器,不包括在内)
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产品介绍

LWA-10k NIR


用于测量、分析和实时监测激光器频率噪声的通用线宽分析仪

 

激光光源频率和相位噪声的表征从未如此简单:LWA-10k使用户能够在宽波长范围内以高精度表征和优化激光光源,包括电信光源的O-/E-S-C-和L-波段,以及红外范围内量子光学应用的典型波长。

 

LWA-10k通过单模光纤提供激光(可使用任意光偏振),提供与激光器频率偏差成比例的实时模拟电压输出。检测技术基于干涉测量原理,因此不需要额外的高稳定窄光基准。

 

可以使用提供的数字转换器模块和软件套件对输出进行分析,以定量分析噪声。


产品型号及主要指标


分析单元

输入

min.

max.

typ.

波长范围 1)

1064 nm

1625 nm

1550 nm

输入功率范围

0.5 mW

8 mW

5 mW

输入功率稳定度

± 5 %

 

 

激光类型

CW,single-mode

 

 

输出光纤类型

SM-FC/APC

 

 

Scan stroke (@ fscan > 10 Hz)

40 MHz

 

 

频谱(光谱)和频率噪声规范 2)

底噪@典型。输入功率和波长

10 Hz

100 Hz

1 kHz

10 kHz

100 kHz

> 1 Mhz

200 Hz/√Hz

100 Hz/√Hz

30 Hz/√Hz

20 Hz/√Hz

15 Hz/√Hz

10 Hz/√Hz

频率噪声密度范围(Hz/√Hz)

10 M

最小固有线宽(洛伦兹线宽)

< 2 kHz

有效线宽范围

< 1 kHz – 20 MHz(β-separation)

动态范围

60 dB

1) 如需定制波长范围,请联系:sales@bonphot.com

2) 指定为1550 nm波长下的5 mW输入功率。

 

分析单元

线型规格

有效线宽范围 

< 5 kHz – 10 MHz(optical linewidth)[curve fitting method]

动态范围

60 dB

频率噪声带宽

10 Hz – 10 MHz

其他

接口类型

Ethernet

模拟输入 

± 7.5 V (50 Ω)

产品尺寸

440 × 340 × 155 mm

产品重量

12.0 kg

数控模块

扫描速率 (Sa/s)

62.5 M

分辨率

16 bits

采样时间

1 ms – 100 ms

评估时间

10 ms – 1 s

接口

USB 3.0 type B

尺寸

210 × 200 × 74 mm

产品重量

2.0 kg

 

软件

操作系统

Microsoft® Windows® 10, 64 Bit

CPU (minimum)

Intel® Core™ i5 or equivalent

存储 (minimum)

8 GB

图形评估选项

频率噪声密度谱、线型谱、固有(洛伦兹)线宽、有效(光学)线宽

更多信息

有关更多技术信息、应用示例、图表以及线宽分析仪的定制,请联系:sales@bonphot.com 

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